方塊電阻測試儀/方塊電阻測定儀/四探針方塊電阻測試儀 型號：HAD-XX-2
HAD-XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新代產品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻 點: 1、采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要分，測量準確穩定。 2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰 3、采用單個電池供電，帶電池欠壓示 4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g 5、可配臺式探頭和制之手握式探頭，對應可采用臺式和手握式操作，使用簡易 6、帶探頭與被測物質接觸良好示(LED) 7、單電源開關，推拉式探頭－主機接插件，操作其簡便。 術標 測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(Ω/口) 擴展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(Ω/口) 測量不確定度≤5% 探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;緣電阻≥500 MΩ 手握式探筆長度:約150mm或90mm;電纜聯線長度:約1.5M