產(chǎn)品降價處理，手持式數(shù)字式四探針測試儀 HADM-2
手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號：HADM-2
HADM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器*符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。 儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
主機主要由數(shù)控恒流源，分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見 表2《四探針探頭型號規(guī)格征選型參照表》點擊入
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、**化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點。 儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
電 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定
直 徑：HAD/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
HAD/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等
| 量程（Ω-cm/□） | 9.999 | 99.99 | 999.9 | 9999. |
| 電阻測試范圍 | 0.010～9.999 | 9.99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～9999 |
| 電阻率/方阻 | 0.010/0.050～9.999 | 9.99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～2000 |
| 基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg