磁光效應綜合實驗儀（法拉效應和磁光調制） 型號；HAD-FD-MOC-A
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的聯系時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。
法拉效應有許多應用，它可以作為物質研究的手段，可以用來測量載流子的有效質量和提供能帶結構的知識，還可以用來測量電路中的電流和磁場，別是在激光術中，利用法拉效應的性可以制成光隔離器、光環形器和調制器等。
HAD-FD-MOC-A型磁光效應綜合實驗儀，是臺綜合研究磁光效應的實驗儀器，通過該實驗儀可以學習法拉效應的原理，并通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過磁光調制的方法確定消光位置，從而提測量精度，這種由淺入深的測量方法使學生理解測量的科學方法。并通過調制的方法可以測量不同磁光樣品的光學性和征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形，觀測磁光調制現象，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質行實驗；2）具有大幅度的交流調制信號和直流勵磁，且穩流勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，直觀；4）調制光接收靈敏度，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶游標測角機構，分辨率。
儀器主要術參數：
1．磁光介質 法拉旋光玻璃
2．激光光源 半導體激光器（波長650nm）輸出率 <2.5mW
3．直流勵磁電流 0—5A(連續可調，數字顯示)
4．調制信號 頻率500Hz(正弦波)
5．起偏器角度分辨率 1度
6．檢偏分辨率 約3分