探針測(cè)試臺(tái)/測(cè)試臺(tái)/中測(cè)臺(tái)/點(diǎn)測(cè)機(jī) 型號(hào)；H22175H22175型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
術(shù) 標(biāo) ：
粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；*小刻劃：1°； 銅盤直徑：Φ85mm；緣盤直徑：Φ102mm
標(biāo)準(zhǔn)配置：主作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。 可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。