便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率測定儀 型號：KDK-KDY-1A
概述便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定*。它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由精寬的恒流源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%，在此范圍內達到家標準機的水平。測量范圍：可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔10mA量程：0.1～1mA 連續可調10mA量程：1mA ～10mA連續可調恒流精度：各檔均優于±0.1%適合測量各種厚度的硅片（3） 直流數字電壓表測量范圍：0～199.9mv靈敏度：100μv準確度：0.2%（±2個字）（4） 供電電源：AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W（5） 使用環境：相對濕度≤80%（6） 重量、體積重量：2.2 公斤體積：寬210×100×深240（mm）（7）KD探針頭壓痕直徑：30/50μm間距：1.00mm探針合力：8±1N針材：TC