A型試片

A型試片/靈敏度試片/探傷試片  型號：A1

型靈敏度試片用于零件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的件，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免 漏檢，正確地知道探傷作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷作者備的調(diào)試具。

     點如下：                                                    

    試片用于磁粉顯示，圖像直觀，使用簡便，對各類零件所方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現(xiàn)其的優(yōu)點。

   性能規(guī)格：                                                       
    試片=1（u）適用于靈敏度探傷，規(guī)格為（11-12）D；=2（ u）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（ u）適用于低靈敏度探傷，規(guī)格為（5-6）D。括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為U（微米），D為件直徑。