渦流測厚儀 型號:TX-ED400
TX-ED400型渦流測厚儀是TX-ED300型測厚儀的改型，儀器性能大幅度提。 儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。 儀器適于在生產現場、銷售現場或施現場對產品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。 儀器符合家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。 儀器點 TX-ED400型渦流測厚儀與TX-ED300型相比，具有如下點： ＊量程寬 TX-ED400型的量程達到0～500μm。 ＊精度 TX-ED400型的測量精度達到2%。 ＊分辨率 TX-ED400型的分辨率達到0.1μm。 ＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在量程范圍內保證*精度。 ＊基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量 誤差不大于1～2μm。 ＊可靠性提 采用集成度、穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性 提。 ＊穩定性提 采用的溫度補償術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器 校正次可在生產現場長期使用。 ＊探頭線壽命長 采用德口的，在德測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命 可大大延長。 ＊探頭芯壽命長 采用強度磁芯材料，微調了探頭*，探頭芯壽命可大大延 長。 ＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無 需返廠維修。
測量范圍： 0～500μm 測量精度： 0～50μm：±1μm； 50～500μm：±2% 分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、 50～500μm：1μm； 0～500μm：1μm（可選） 使用溫度： 5～45℃ 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm 重 量： 260g
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