兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀 （測鍺） 型號：KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我家標準GB/T1551-1995及美材料與試驗協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”*。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠（如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等）的電阻率，測樣長度與截面*尺寸之比應(yīng)不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀爾帖效應(yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對測量的影響較小，測量結(jié)果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測量精度般優(yōu)于四探針法。