手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3
概述 HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器*符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。 儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。 儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！ 探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊入 儀器具有測(cè)量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、**化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。 儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。 三、基本術(shù)參數(shù) 1. 測(cè)量范圍、分辨率 電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω 電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD 方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 2. 可測(cè)材料尺寸 手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下： 直 徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD。 HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。 長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。. 測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等
量程（Ω-cm/□）
2.000
20.00
200.0
2.000k
20.00k
電阻測(cè)試范圍
0.010～2.200
2.000～22.00
20.00～220.0
0.200～2.200k
2.000～50.00k
電阻率/方阻
0.010/0.050～2.200
2.000～20.00k/100.0k
基本誤差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB
4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
網(wǎng)址;www.51658042.com
四探針檢測(cè)儀